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日時

2026年7月16日(木)
①10:00~12:00 ②14:00~16:00
2026年7月17日(金)
①10:00~12:00 ②14:00~16:00

場所

オザワ科学 本社1階ラボルーム

スピーカー

オザワ科学株式会社 ビフォアセールス課
株式会社堀場製作所 製品担当者

参加費

無料(事前ご予約必須)

定員

各日 午前/午後2部制 1グループ6名予定
(お申込みは1社2名までとさせていただきます)

備考

お申込みは先着順です。
お申込多数の場合、企業様ごとの上限人数(2名)を調整させていただく場合がございます。
予めご了承ください。

概要

粒子評価において、「分布として測る」だけでなく「実際の粒子を見る」ことで、理解は大きく変わります。
本見学会では、レーザー回折・散乱式/動的画像解析装置 Particaを用いて、“測る×見る”を組み合わせた粒子評価を、
実際に体験いただけます。

特に堀場製作所LAシリーズをご使用中の方にはすぐにご活用いただける、粒度分布計を正しく運用するメンテナンスや
管理方法について、同社製品の点検・修理を行う堀場テクノサービスのエンジニアが技術的な観点で説明します。

当日は、

▶ 粒子を測定中に可視化する様子

▶ 粒子サイズ・形状・ばらつきのリアルな分布

▶ 測定データの背景にある粒子の状態や挙動の違い

を、実機を通してその場でご確認いただけます。

さらに、乾式ユニットや各種セルを用いたさまざまな測定条件での評価イメージもご紹介。
ご自身のサンプルや用途に置き換えてイメージいただけます。

「分布データだけでは判断に迷う」

「測定結果の理解をもう一歩深めたい」

そんな方に、粒子評価の新しいアプローチを体感いただける機会です。

その場で見れば、納得できる。
“測る×見る”が、粒子評価を次のステージへ導きます。

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